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X荧光光谱仪的优劣势

   日期:2017-07-07     来源:维库仪器仪表网    浏览:76    
核心提示:

  X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。

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  X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。

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  那么X荧光光谱仪的优势和劣势有哪些?请看下面说明:

  光谱仪优势:

  a)分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

  b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。

  c)非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。

  d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

  e)分析精密度高。

  f)制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

  光谱仪劣势:

  a)难于作分析,故定量分析需要标样。

  b)对轻元素检测的灵敏度要低一些。c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。


 
日期: 2017-07-07
标签: X荧光 X荧光光谱 X荧光光谱仪 荧光 荧光光谱 荧光光谱仪
 
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