离子淌度（ion mobility，IM），又称离子迁移率，为离子在施加电场和惰性气体所形成的屏障腔体内进行迁移。在离子迁移过程中，离子所带电荷数越多、分子量越小以及结构越密集，则其穿越屏障的能力越大，因此其迁移速度越快。相较之下，分子量较大或结构较松散的离子，因具有较大碰撞截面积，所以与惰性气体的碰撞次数较多而导致迁移速度慢。因此，离子会在迁移过程中因不同价态、离子大小与结构不同而造成分离。

       离子迁移谱（Ion Mobility Spectrometry,IMS）是20世纪60年代末至70年代初由Cohen和Karasek提出的一种微量化学物质检测技术，特别适合于一些挥发性和半挥发性有机化合物的痕量检测，如化学战剂、毒品、爆炸物、大气污染物等，在机场安检、环境监测、工业生产等领域均有应用，但由于当时人们对大气压下电离特性了解较少，加之离子迁移谱分辨率低且不能提供分子质量信息，该技术并未得到非常广泛的应用推广。

       20世纪50年代，美国乔治亚理工学院的Barnes、McDaniel 和Martin 首次将离子迁移谱与磁质谱( Magnetic sector mass spectrometry)联用，用于研究气相中分子离子的反应机理。随后，McAffee 和Edelson 在1963 年将离子迁移谱与飞行时间质谱( Time of  flight mass spectrometry，TOFMS) 联用。

       20世纪70年代，随着商品化离子淌度质谱( Ion mobility spectrometry mass spectrometry，IMMS) 的问世，不同类型的质量分析器，包括飞行时间质谱、四极杆质谱(QMS) 、傅立叶变换离子回旋共振质谱( FTICＲMS) 等均有与离子迁移谱联用的应用报道。离子淌度质谱技术既突破了离子迁移谱独立使用的局限性，又大大拓展了质谱的性能和应用范围。

       20世纪80年代末，随着MALDI（基质辅助激光解吸电离）和ESI（点喷雾离子电离）为代表的各种软电离方法应用以来，使得离子淌度质谱在化合物异构体分离即生物大分子分析方面得到飞速发展。

       离子迁移谱按照分离机理可分为迁移管离子迁移谱( Drift tube ion mobility spectrometry，DTIMS) 、行波离子迁移谱( Travelling wave ion mobility spectrometry，TWIMS) 、场不对称波形离子迁移谱( Field asymmetric waveform ion mobility spectrometry，FAIMS) 、呼吸式离子迁移谱( Aspiration ion mobilityspectrometry，AIMS) 以及捕集离子淌度（Trapped Ion Mobility Spectrometry,TIMS）等。

       离子淌度质谱是离子迁移谱与质谱的联用，与单独使用质谱相比，通常安装于质谱仪内部并置于质量分析器前端，可根据所搭配的质谱仪条件而设计。质量分析器可采用四极质量分析器或飞行时间质量分析器，由于四极分析器扫描离子费时较长，现在IMMS分析器多维飞行时间质谱（TOF-MS）。仪器中漂移管部分通以缓冲气体，质量分析器部分采用高真空，二者之间配以由锥体和离子透镜组成的接口。由于离子在漂移管中通过的时间为毫秒级，在飞行时间中通过的时间为微秒级，在下一组分到来前有充足的时间求得离子的质量数。有时为了获得更多的离子信息，可在漂移管前和（或）后串联使用几种质量分析器，如离子阱或四极杆等。

       由于离子淌度依照离子所带电荷数、大小以及结构而分离，因此可以在同一张质谱信号图中，进一步区分出生物分子的种类，如脂质、多肽与碳水化合物或手性异构体的分离。因此，液相色谱-离子淌度质谱/质谱可达到四个分离维度。

       一些质谱制造商都推出了各自的商品化离子淌度质谱，所采用的离子淌度技术也各不相同，本文将对部分商品技术进行盘点，以飨读者。

       行波离子迁移谱 TWIMS

       沃特世公司从2001年开始研发淌度质谱，从最初的线性离子淌度（Linear Field IMS）到2003年的行波离子淌度质谱（T-Wave IMS），而后在2006年成功推出了全球第一台商业化的淌度质谱SYNAPT HDMS。

       Waters的T-Wave 基本结构是一组固定在印刷电路板上的环形电极，相邻环形电极上加载射频（RF）电压和直流电压。其基本工作原理是离子在非均均匀、可移动的电场和脉冲电压的推动下穿过中性缓冲气体。RF电压使离子在极板间震荡，而直流脉冲电压推动离子向下一组电极移动。通过选择合适的电压和脉冲周期即可实现调整离子的通过时间。迁移率越大的离子越早通过。离子的运动过程中，离子会与中性缓冲气体相互作用/碰撞，从而减慢离子推动速度，最终具有不同大小、形状、电荷及质量的离子以不同的速率迁移。T-Wave相比于其他离子淌度结构，其气压更低。为了获得离子淌度的高分辨力，要提高缓冲气体的气压和脉冲驱动电压，其专门设计了helium-filled entry cell（ Helium Gate），以避免离子直接进入较高气压的漂移区时发生碰撞碎裂。


       2019年ASMS上，Waters发布了环形淌度 SELECT SERIES Cyclic IMS仪器，以环形结构延长了漂移区有效长度，增强分离效果与离子存储能力。

       SELECT SERIES Cyclic IMS 与 T-wave 一脉相承，镀金电极阵列固定于PCB板上，环形结构提供了高分辨率(>400)，配合预阵列存储装置可实现类似于模拟移动床(SMB)色谱的操作方式，选择性地排出部分离子，对剩余离子做更进一步的分离。

       迁移管离子迁移谱DTIMS

       安捷伦使用的是经典的DTIMS结构离子淌度，其中搭载了离子漏斗技术，工作原理如下图，入口离子漏斗聚焦，进入收集器，累积一定量离子后，向漂移管注入离子。离子依次通过漂移管，进入出口离子漏斗，再次聚焦，进入后级四极杆质量选择器。


       场不对称波形离子迁移谱 FAIMS

       该系列包括赛默飞、Sciex，FAIMS 工作原理是基于强电场下离子淌度的非线性，且这种非线性关系与离子的性质相关。低电场条件下，离子的迁移率几乎不随电场强度变化。但当电场强度增大到一定程度 (约11000 V·cm-1)后，离子的迁移率与电场强度的关系就会呈现非线性相关。FAIMS工作时，离子在气流的携带下水平移动，在两块极板上加上两组电压：周期不对称方波 DV和补偿电压 CV。DV 是周期性的高电压、低电压交替。由于高电压和低电压所对应的迁移率不同，离子会呈现锯齿状轨迹，且每个周期都会有一小段垂直方向上位移。在此基础之上，若叠加固定的补偿电压CV，则满足特定差分迁移率（高场下迁移率与低场下迁移率的差值，因此 FAIMS 也叫差分离子淌度）的离子能够平稳的飞过电场，其他离子则会撞到极板上，这就实现了离子选择。若随时间改变CV即可实现对不同离子的扫描，电压范围一般为-50V~10V。

       2011年ASMS期间，SCIEX推出SelexION 技术，即离子淌度差分质谱分离技术（Differential Mobility Spectrometry,DMS）,是一个基于平面设计的系统，离子淌度池由两个平行的金属板组成，并可以形成离子迁移场区，离子通过气体流被引入质谱系统。该离子淌度池位于Q0和锥孔之间，在大气压条件下运行，具有串联质谱的所有扫描方式，而且引入化学修饰剂。
       赛默飞的结构采用了Dome electrode。离子在电场的驱动下绕过中心圆柱电极。类似于平板电极，这种绕柱方式可去除中性污染物，提高质谱灵敏度。

       ASMS 2019 赛默飞发布了 Orbitrap Exploris 和 Orbitrap Eclipse 来取代原本的QE和Fusion系列平台，也都搭载 FAIMS 离子淌度。


       捕集离子淌度TIMS

       TIMS 技术是布鲁克的专利。其工作原理为气流携带离子进入逆向梯度电场，若气流速度与离子的迁移速率相等则离子相对于漂移管静止，即不同离子依其淌度差异，分布在不同电场强度的位置。离子截面越大，离子淌度越小，维持静止所需的电场强度越高，即稳定在高场区域。此时若逐渐降低电压，即实现扫描。


       参考文献：

       [1] 王海龙，魏开华,离子淌度质谱及其理论研究进展.

       [2] 王玉娜,孟宪双,刘丽娟,离子淌度质谱技术及其应用研究进展.

       [3] 立春波,AB SCIEX离子淌度差分质谱技术SelexION——极限提高质谱鉴别能力