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  • 梅特勒-托利多携ANTOP获奖产品XRR分析天平以及最新的实验室仪器管理软件平台LabX等多款实验室称量和分析仪器产品亮相BCEIA2019
    • 2019年10月23日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2019）在北京•国家会议中心开幕，展出国内外500余家参展企业带来的数千项新的产品和技术。梅特勒-托利多携ANTOP获奖产品XRR分析天平以及最新的实验室仪器管理软件平台LabX等多款实验室称量和分析仪器产品亮相BCEIA2019。
    标签： 梅特勒 梅特勒-托利多 托利多 XRR分析天平 分析天平 天平 2019-10-28 10:49
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