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  • 《硅单晶中氮杂质含量的测定 二次离子质谱法》现公开征求意见
  • 近日,由中国电子科技集团公司第四十六研究所负责制定的《硅单晶中氮杂质含量的测定 二次离子质谱法》国家标准完成征求意见稿编制,并公开征求意见,截止时间为2021年10月12日。
  • 广州地球化学研究所950万元招标采购飞行时间二次离子质谱-聚焦离子电子双束电镜系统1台
  • 中国科学院广州地球化学研究所飞行时间二次离子质谱-聚焦离子电子双束电镜系统采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://www.o-science.com 招标在线频道获取招标文件,并于2020年12月14日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。
  • 二次离子质谱(SIMS)的介绍
  • 离子探针分析仪,即离子探针(Ion Probe Analyzer,IPA),又称二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrum,SIMS),是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表面,使之激发和溅射二次离子,经过加速和质谱分析,分析区域可降低到1-2μm直径和5nm的深度,正是适合表面成分分析的功能,它是表面分析的典型手段之一。
    标签: 二次离子质谱 离子 离子质谱 质谱 MS 2019-05-05 08:02
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