PLS Plus激光微地貌扫描仪

原理及应用:利用线性激光的反射与CCD成像原理,将地表形态转换成不同物象点位置的电信号,再经计算机软件处理成数字高程模型(DEM),进而评价土壤侵蚀程度或进行相关机理研究。相对于PLS第一代产品,扫描速度更快,精度更高,采用笔记本电脑采集数据,野外使用更加方便。参数:剖面分辨率:0.5mm垂直分辨率:0.1mm测量宽

  • 产品单价: 面议
  • 品牌:

  • 产地:

    国内 北京

  • 产品类别:其他表面检测类仪器
  • 有效期:

    长期有效

  • 发布时间:

    2019-07-26 16:12

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产品参数

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国内 北京

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有效期至:

长期有效

详情介绍

 原理及应用:利用线性激光的反射与CCD成像原理,将地表形态转换成不同物象点位置的电信号,再经计算机软件处理成数字高程模型(DEM),进而评价土壤侵蚀程度或进行相关机理研究。相对于PLS第一代产品,扫描速度更快,精度更高,采用笔记本电脑采集数据,野外使用更加方便。

 

参数

·剖面分辨率:0.5 mm

·垂直分辨率:0.1 mm

·测量宽度:60 cm

·测量长度:标准3 m

·每分钟可扫描大于400个剖面

·实验室和野外都可使用

·没有土壤类型限制

·数据为XYZ 高程或矩阵数据

主系统组成

·标准3米移动滑轨(其它长度可定制,范围1m-5m之间

·激光器发射器

·CCD照相机及镜头

·笔记本电脑(可选野外笔记本电脑)

·系统控制箱

·野外使用可选蓄电池或交流电供电(另外订制

 

 

移动框架

·铝合金框架

·4个万向轮

·4个水平调整器

·扫描仪固定装置

 

 

 

产地:美国

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