北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”),于1985年经国务院批准，由原中华人民共和国国家科学技术委员会成功举办了第一届，是我国首次举办的分析测试领域的大型国际学术会议和展览会。历经34年的培育和发展，已成功地举办了十七届。
2017年10月13日，由中国分析测试协会主办的第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA2017)在北京?国家会议中心圆满落下帷幕。BCEIA2017学术报告会、展览会双丰收，期间科技部黄卫副部长，原科技部副部长大会主席程津培院士和科技部有关司局长等领导共分5批到场参观指导，给予了高度评价和赞扬!
BCEIA2017在参展厂商及展位数量上再创新高，展会占地面积26000平方米，设标准展位1100个，共有500家展商参展。其中境内展商340家，境外及港台展商160家，展示了三千台国际(国内)技术领先的新仪器、新设备。本届实名登记专业人员25547人(不包含展商工作人员)，参会学者、观众及展商工作人员达到66370人次。
