PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
　　一、PCT老化试验箱箱体结构特点：
　　1、圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。
　　2、圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。
　　3、精密设计，气密性良好,耗水量少，每次加水可连续200h。
　　4、自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，专利安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
　　5、在无试验负荷，无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
　　6、关于温度上升及下降时间，是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃时所测量的性能。
　　7、温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
　　8、温湿度均匀度定义为：实验室几何中心点处，温湿度时的所测之资料。
　　9、以上数据性能，测量，计算方法参照GB5170、2、GB5170、5的方法测定。
　　二、PCT老化试验箱仪器特色：
　　1、选用的是式的的技能来操控，ASLI挑选的是进口微电脑来操控饱满蒸气温度，微电脑主动演算操控饱满蒸气温度。
　　2、实验箱的压表ASLI挑选有着主动水位操控器，而且会在水位缺乏时会有警示，在时刻操控器运用的是LED显现器，式的指针显现正负压表。
　　3、在实验箱中ASLI运用的契合工业安全规范的圆型内箱，选用了不锈钢的原型运用内箱成果，这种规划能够在实验中能够防止结露滴水。