冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。冠层分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。

　　冠层分析仪特点:

　　1、仪器将显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆一体化设计，操作简单，体积小，携带方便

　　2、存储介质采用SD卡，存储容量大，数据管理方便

　　3、冠层分析仪具有自动休眠功能

　　4、测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔小1分钟，自动测量次数99次，手动测量根据实际需要手动采集