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四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
该仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快
高温四探针测试仪可以实现高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率和外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其他导电薄膜的方块电阻。
高温四探针测试仪的测量原理
测量电阻率的方法很多,如三探针法、电容-电压法、
高温四探针测试仪广泛用于碳系导电材料、金属系导电材料、金属氧化物系导电材料、结构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测量。高温四探针测试仪过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线。
标签: 四探针测试仪 测试 测试仪 技术特点 2018-04-13 15:33
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