镀层测厚仪XF-P3

   日期:2023-07-27     来源:西凡仪器    浏览:190    
 镀层测厚仪XF-P3是西凡仪器面向镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。


 
日期: 2023-07-27
标签: 镀层测厚仪 测厚仪 无损检测 检测 X射线荧光光谱仪 射线荧光光谱仪
 
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