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技术原理
镀层测厚仪XF-P3
日期:2023-07-27 来源:
西凡仪器
浏览:
1280
镀层
测厚仪
XF-P3是西凡仪器面向镀层无损
检测
的一款X
射线荧光光谱仪
,可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
日期:
2023-07-27
标签:
镀层测厚仪
测厚仪
无损检测
检测
X射线荧光光谱仪
射线荧光光谱仪
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