镀层测厚仪XF-P3

   日期:2023-07-27     来源:西凡仪器    浏览:300    
 镀层测厚仪XF-P3是西凡仪器面向镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。


 
日期: 2023-07-27
标签: 镀层测厚仪 测厚仪 无损检测 检测 X射线荧光光谱仪 射线荧光光谱仪
 
相关知识
免责声明
1.本网中刊登的文章、数据的版权仅归原作者所有,原创文章由中实仪信网编辑整合,转载请注明中实仪信网出处。
2.转载其它媒体的文章,我们会尽可能注明出处,但不排除来源不明的情况。网站刊登文章是出于传递更多信息的目的,对文中陈述、观 点判断保持中立,并不意味赞同其观点或证实其描述。
3.如您对文章内容、版权或其他问题持有异议,请与中实仪信网联系。联系邮箱:3383880279@qq.com 联系QQ:

推荐图文
推荐知识
点击排行
推荐标签
新手指南
采购商服务
供应商服务
交易安全
关注我们
中实仪信会员交流群

周一至周五 9:00-18:00
(其他时间联系在线客服)

24小时在线客服