X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果，镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
在样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在80mm范围内，即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。
自动对焦功能简便的摄像头对焦
自动接近功能zui适合位置的对焦
X荧光镀层厚度测量仪能通过新薄膜FP法提高测量精度
日立FT110AX射线荧光镀层厚度测量仪实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书，简单方便。
主要特点：
1.操作非常简单。
2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。
3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。
4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择)
5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。
规格参数：
可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)
X射线源：小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
滤波器：一次滤波器：Al-自动切换 二次滤波器：Co-自动切换
检测器：比例计数管
准直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm
安全性能：装有样品门联锁、防冲撞的功能
样品图像对焦方式：激光自动对焦
样品观察：CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项：倍率切换（zui大130倍）
修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作：配备MS-EXCEL? MS-WORD?(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能
新薄膜EP法
减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化
无标样测量方法可进行zui多5层的膜厚测量
自动对焦功能和距离修正功能
凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量
灵敏度提高
镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2
生成报告功能
一键生成测量报告书
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
X荧光镀层厚度测量仪可进行广域样品观察
FT110A对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后，可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此，可大幅减少多数测量点位置的选取时间，以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。
