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X荧光镀层厚度测量仪通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果,镀层厚度测量仪荧光或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
标签: X荧光 荧光 镀层厚度 镀层厚度测量仪 厚度测量仪 测量 2018-04-05 16:41
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