稀土元素被誉为"工业的维生素"，具有丰富的磁、光、电等特性，在现代高新技术产业和功能材料中起到了至关重要的作用。这些材料主要包括稀土永磁材料、稀土催化材料、发光材料、贮氢材料、磁制冷材料、光导纤维、磁光存储材料、巨磁阻材料、稀土激光材料、超导材料、介电材料等，在航空、航天、信息、电子、能源、交通、医疗卫生等领域得到了广泛的应用。
高纯稀土通常是指纯度高于99.99%的稀土金属或其氧化物。高纯稀土材料中存在的其它稀土杂质元素常会对最 终产品的功能产生影响，随着提炼技术的不断改进，使得稀土氧化物纯度可达到6N（行业上通指稀土杂质元素含量），从而对于痕量稀土杂质测定方法提出了更高的要求。针对高纯稀土中的杂质检测会有下面难点。
主基体的浓度太高，会干扰杂质元素的检测
对于高纯稀土中的杂质检测，往往样品是5N（99.999%）及以上级别含量非常低，需要仪器有足够高的灵敏度
案例分析
测定6N级高纯稀土氧化钆
(Gd2O3)中的14种稀土杂质
目前氧化钆中稀土杂质检测方法主要依据国标GB/T18115.7中的电感耦合等离子体发射光谱法( ICP-OES) 和质谱法( ICP-MS)。
在ICP-OES分析中，由于Gd的谱线十分密集，对其他稀土杂质元素的谱线干扰非常严重，测定范围在0.001%-0.05%之间，难以满足更高纯度要求。
单杆ICP-MS 质谱法具有更低的检出限，但Gd具有7个天然丰度同位素，当采用SQ-ICP-MS方法进行氧化钆中其它稀土杂质元素分析时，Yb和Lu将受到严重的[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd16 17 18 O]+和[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd 16 17 18 OH]+类多原子类干扰，在现有的GB/T18115.7标准方法中，针对氧化钆中镱和镥的测定制定了采用C272柱分离钆基体后再进行ICP-MS法测定方案，各杂质元素的最 低定量下限可达0.0001%，能够实现近5N级钆纯度的测定。但这种分离技术非常费时，步骤繁琐，对方法测定结果的影响因素多。
"赛默飞三重四极杆ICPMS"
赛默飞三重四极杆ICPMS不经任何基体分离手段，能轻松解决高纯稀土元素中杂质元素检测的干扰问题，为高纯稀土质量提供有力质量控制手段。
实验测定结果
iCAP TQ 三重四极杆ICPMS-高纯稀土元素检测利器
超强抗干扰能力
利用 Q1的iMS智能化质量筛选功能可有效地将高纯稀土基体离子进行剔除，然后通过Q2碰撞反应池中加入特定的反应气体，如氧气或者氨气，将待测稀土杂质离子或者基体氧化物离子的质量数进行迁移，解决了质量数重叠干扰。
简单操作
赛默飞Qtegra™ 智能科学数据处理软件（ISDS™）通过自带的Reaction Finder 软件工具，能够自动为分析任务确定最 优测量模式，帮助用户方便地建立方法，节省了日常方法建立所消耗的时间。
为全国稀土行业的客户提供解决方案
赛默飞采用iCAP TQ ICPMS/MS三重四极杆质谱仪无需采用繁杂的分离稀土基体技术，就能轻松去除基体元素形成的干扰，从而准确测定稀土杂质元素的含量，为全国稀土行业的客户提供解决方案以满足行业发展的迫切需求。
